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X荧光元素分析仪的日常使用因素
  • 发布日期:2020-08-21      浏览次数:16
    •    一:X荧光元素分析仪的干扰因素:
        1、是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线。
        2、X射线是一种波长较短的电磁辐射,通常是指能量范围在标准keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。
        3、荧光元素分析仪的原理基于原子受到X射线的作用,其内层电子被激发,形成空穴,原子处于不稳定的激发态。
        4、为了回到稳态,原子的外层电子会跃迁回内层,多余的能量以荧光形式释放出来,被侦测器检测到,通过此来做分析。通常,可以将荧光元素分析仪可分为波长色散性和能量色散性。
        5、X荧光元素分析仪在日常的分析工作中,XRF这种分析方法经常会出现共元素干扰。这种共元素干扰的问题主要起源于X荧光射线侦测器对于X荧光射线的分辨率的限制所致,只要是XRF都会遭遇到相同的问题。共元素干扰主要分为三类:两相近共元素干扰、逃离波峰、加乘波峰。
        6、两相近共元素干扰:由于两元素在能谱图上的位置相近,以至于侦测器无法分别出两者之间的差距。
        7、逃离波峰:由于某元素的浓度异常高,此时发出大量X荧光射线,而侦测器无法及时处理,将在此元素的能谱位置前一个硅Ka的能谱距离多出一根小波峰而造成误判,但情形极少出现。
        8、加乘波峰:由于某元素的浓度异常高,此时发出大量X荧光射线,而侦测器无法及时处理,将在能谱两倍的位置上出现一根波峰。
        9、中文菜单,操作简便。预热速度快,开机时间短。
        10、采用物理分析方法,分析中不接触、不破坏样品,无需化学试剂。
        11、仪器高度集成化,具有强大的环境适应能力和抗干扰能力。
        总结:X荧光元素分析仪的使用因素小编就分享到这了,看完本文您就应该有了基本的认识和了解相信大家都明白了吧!总的来说,希望对大家有所帮助。
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