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X荧光元素分析仪的原理和共元素干扰情况
  • 发布日期:2018-05-02      浏览次数:516
    •  X荧光元素分析仪的原理:
          X荧光元素分析仪的原理主要基于:原子受到X射线的作用,其内层电子被激发,形成空穴,原子处于不稳定的激发态。为了回到稳态,原子的外层电子会跃迁回内层,多余的能量以荧光形式释放出来,被侦测器检测到,通过此来做分析。通常,可以将X射线荧光光谱分析仪可分为波长色散性和能量色散性。
      X荧光元素分析仪的共元素干扰情况:
          在日常的分析工作中,XRF这种分析方法经常会出现共元素干扰。这种共元素干扰的问题主要起源于X荧光射线侦测器对于X荧光射线的分辨率的限制所致,只要是XRF都会遭遇到相同的问题。共元素干扰主要分为三类:两相近共元素干扰、加乘波峰、逃离波峰。
          (1)两相近共元素干扰:由于两元素在能谱图上的位置相近,以至于侦测器无法分别出两者之间的差距。如铅(La10.55Kev)、砷(Ka10.54Kev)。
          (2)加乘波峰:由于某元素的浓度异常高,此时发出大量X荧光射线,而侦测器无法及时处理,将在能谱两倍的位置上出现一根波峰。如大量的铁(Ka6.4Kev),会在能谱12.8Kev处出一根小波峰。造成误判。但此种情形极为少见。
          (3)逃离波峰:由于某元素的浓度异常高,此时发出大量X荧光射线,而侦测器无法及时处理,将在此元素的能谱位 置前一个硅Ka的能谱距离多出一根小波峰而造成误判,但情形极少出现。如锡(Ka25.27Kev)-硅(Ka1.74Kev)=23.53Kev≈镉(Ka23.17 Kev)。
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